造價工程師《技術與計量安裝》第二章安裝工程施工技術（13）

　?。ㄋ模┖附雍筚|(zhì)量檢驗

　　在工程中對于焊接質(zhì)量的檢驗，除了外觀檢驗外，一般多用無損探傷檢驗來提高檢驗的可靠性。

　　1.射線檢測（RT）

　　射線探傷是施工檢驗上應用廣泛的一種探傷技術，它能很準確地檢查出工件內(nèi)部或表面所存在的缺陷大小、位置和性質(zhì)。射線探傷包括x射線、γ射線、中子射線探傷等，其基本原理相同。

　?。?）X射線、γ射線探傷。X射線或γ射線就本質(zhì)而言與可見光相同，都屬于電磁波，只是波長不同，故性質(zhì)也有差異。γ射線的波長較X射線短，故其射線更硬，穿透力也越強。

　?。?）中子射線檢測。是通過物體對入射中子束強度的衰減而獲得物體內(nèi)部物理完整性兩維圖像的一種無損檢測方法。

　　2.超聲檢測（UT）

　　超聲檢查一般是指使超聲波與試件相互作用，就反射、透射和散射的波進行研究，對試件進行宏觀缺陷檢測、幾何特性測量、組織結構和力學性能變化的檢測和表征，并進而對其特定應用性進行評價的技術。

　　超聲法的優(yōu)點是可用于金屬、非金屬和復合材料制件的無損評價；超聲波在金屬中可以傳播很遠的距離（能達10m），故可用其探測大厚度工件；對確定內(nèi)部缺陷的大小、置位、取向、埋深和性質(zhì)等參量較之其他無損方法有綜合優(yōu)勢；特別是對檢測裂縫等平面型缺陷靈敏度很高；僅需從一側接近試件；設備輕便對人體及環(huán)境無害，可做現(xiàn)場檢測；所用參數(shù)設置及有關波形均可存儲供以后調(diào)用。主要局限性是對材料及制件缺陷作精確的定性、定量表征仍需作深入研究；對試件形狀的復雜性有一定限制。

　　3.渦流檢測

　　渦流檢測是以研究渦流與試件的相互關系為基礎的一種常規(guī)無損檢測方法。當試件被放在通有交變電流的激勵線圈中或其附近時，進入試件的交變磁場可在試件中感應出方向與激勵磁場相垂直的、呈旋渦狀流動的電流（渦流），這渦流會轉(zhuǎn)而產(chǎn)生一與激勵磁場方向相反的磁場使線圈中的原磁場有部分減小，從而引起線圈阻抗的變化。

　　渦流檢測的主要優(yōu)點是檢測速度快，線圈與試件可不直接接觸，無需耦合劑。主要缺點是只限用于導電材料，對形狀復雜試件難做檢查，只能檢查薄試件或厚試件的表面、近表面部位，且檢測結果尚不直觀，判斷缺陷性質(zhì)、大小及形狀尚難。

　　2009年多選48．渦流檢測屬于無損傷，其主要特點有（ ）。
　　A．適用于任何材料檢測
　　B．無需耦合劑
　　C．檢測速度快
　　D．不適用形狀復雜

　　答案 B C D

　　4.磁粉檢測（MT）

　　當被磁化的鐵磁性材料表面或近表面存在缺陷（或組織狀態(tài)的變化），從而導致該處的磁阻有足夠的變化時，在材料表面空間可形成漏磁場。將微細的鐵磁性粉末施加在此表面上，漏磁場吸附磁粉形成痕跡顯示出缺陷的存在及形狀，為磁粉檢測。它的優(yōu)點是能直觀顯示缺陷的形狀大小，并可大致確定其性質(zhì)；具有高的靈敏度，可檢出的缺陷最小寬度約為1μm；幾乎不受試件大小和形狀的限制；檢測速度快，工藝簡單，費用低廉。局限性是只能用于鐵磁性材料；只能發(fā)現(xiàn)表面和近表面缺陷，可探測的深度一般在1～2mm；寬而淺的缺陷也難以檢測；檢測后常需退磁和清洗；試件表面不得有油脂或其他能粘附磁粉的物質(zhì)。

　　磁粉檢測根據(jù)磁化試件的方法可分永久磁鐵法、直流電法和交流電法等；根據(jù)磁粉的施加可分為干粉法和濕粉法；而根據(jù)試件在磁化的同時即施加磁粉并進行檢測還是在磁化源切斷后利用剩磁進行檢測，又可分為連續(xù)法和剩磁法。

　　5.液體滲透檢測（PT）

　　液體滲透檢測是檢驗非疏孔性金屬和非金屬試件表面上開口缺陷的一種無損檢測方法。將溶有熒光染料或著色染料的滲透劑施加在試件表面，滲透劑由于毛細作用能滲入到各種類型開口于表面的細小缺陷中，清除附著在試件表面上多余滲透劑，經(jīng)干燥和施加顯像劑后，在黑光或白光下觀察，缺陷處可分別相應地發(fā)出黃綠色的熒光或呈現(xiàn)紅色，用目視檢驗。

　　液體滲透檢驗的優(yōu)點是不受被檢試件幾何形狀、尺寸大小、化學成分和內(nèi)部組織結構的限制，也不受缺陷方位的限制，一次操作可同時檢驗開口于表面中所有缺陷；不需要特別昂貴和復雜的電子設備和器械；檢驗的速度快，操作比較簡便，大量的零件可以同時進行批量檢驗，因此，大批量的零件可實現(xiàn)100%的檢驗；缺陷顯示直觀，檢驗靈敏度高。

　　最主要的限制是只能檢出試件開口于表面的缺陷，不能顯示缺陷的深度及缺陷內(nèi)部的形狀和大小。

　　2009年單選12．無損探傷檢驗方法中，僅能夠發(fā)現(xiàn)焊縫表面和近表面缺陷的方法是（ ）。
　　A．X射線檢測
　　B．超聲檢測
　　C．磁粉粒測
　　D．中子射線檢測

　　答案 C

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